Máy phân tích kích thước tiểu phân LS 13 320 XR
Để có những cải tiến lớn giúp bạn phát hiện ra những khác biệt nhỏ.
LS 13 320 XR cung cấp dữ liệu về sự phân bố kích thước tiểu phân tốt nhất trong ngành từ công nghệ PIDS* tiên tiến, cho phép đo lường với độ phân giải cao và phạm vi động mở rộng. Giống như LS 13 320, máy phân tích kích thước tiểu phân XR cho kết quả nhanh chóng, chính xác và giúp bạn hợp lý hóa quy trình công việc để tối ưu hóa hiệu quả. Một số cải tiến lớn giúp bạn phát hiện ra những khác biệt nhỏ một cách đáng tin cậy có thể có tác động lớn đến dữ liệu phân tích tiểu phân của bạn.
- Phạm vi đo trực tiếp từ 10 nm – 3.500 μm
- Tự động làm nổi bật kết quả đạt/không đạt để kiểm soát chất lượng nhanh hơn
- Phần mềm nâng cao giúp đơn giản hóa việc tạo phương pháp cho các phép đo đã chuẩn hóa
- Tiêu chuẩn kiểm soát mới để xác minh đầy đủ hiệu suất của thiết bị/mô đun
LS 13 320 XR Particle Size Analyzer Features
Spot Small Differences
- Expanded measurement range: 10 nm – 3,500 µm
- Laser diffraction plus advanced Polarization Intensity Differential Scattering (PIDS) technology enable high-resolution measurement & reporting of real data down to 10 nm
- Provides accurate, reliable detection of multiple particle sizes in a single sample
Easy-To-Use Software
- ADAPT Software features automatic pass/fail check
- Pre-configured methods deliver results with 3 clicks or less
- Simplifies analyzer operation by experts & novice users alike
- 1-click overlay with historical data
- Intuitive user diagnostics keep you informed during sampling
- Simplified method creation for standardized measurements
ADAPT Software enables 21 CFR Part 11
- Customizable security system to meet diverse needs
- Choose from 4 security levels
- High-security configuration supports 21 CFR Part 11
PIDS Technology* for Direct Detection of 10 nm Particles
- 3 light wavelengths (450, 600, & 900 nm) irradiate samples with vertical & horizontal polarized light
- Analyzer measures scattered light from samples over a range of angles
- Differences between horizontally & vertically radiated light for each wavelength yield high-resolution particle size distribution data
Explore LS 13 320 XR Models
Technical Documents
Didn't find what you are looking for? For more results click
here.
